|  print

[  ]
 
Meulen, A.van der , Elzakker, B.G.van , Schippers, J.T.

p in Dutch   1984

Toon Nederlands

English Abstract
Abstract not available

 

RIVM - Bilthoven - the Netherlands - www.rivm.nl

Display English

Rapport in het kort
De mogelijkheden van elementbepaling in aerosolen m.b.v. REM-EDAX worden besproken. De minimum aantoonbaarheid van sporenelementen ligt in de orde van: PIXE: 1 ppm rontgen fotonen: 10-100 ppm; REM-EDAX: 1000 ppm. Gebruikersgemak en ruimtelijk oplossend vermogen zijn daarnaast belangrijke factor bij de keuze van een analysemethode. Relatieve elementbepaling m.b.v. calibratiestandaarden is mogelijk tot op circa 20%. Semikwantitatieve analyse mogelijk tot op een factor 2 in eerste orde benadering.

 

RIVM - Bilthoven - Nederland - www.rivm.nl

( 1984-10-03 )